應力雙折射測量系統(tǒng)(殘余應力測量)可以在深紫外（193nm）波段進行應力雙折射探測。針對特定材料制作（氟化鈣）和特定形狀（非球面透鏡）的技術解決方案。
應力雙折射測量系統(tǒng)，非球面透鏡應力雙折射測量，應力橢偏儀，應力橢偏測量,殘余應力測量
不規(guī)則非球面光學元件應力分布測量系統(tǒng)（應力雙折射測量系統(tǒng)）通過對光的調制解調可以測出待測光學元件中的雙折射大小和方向，這些數據同時也表示了應力的大小和方向。這套不規(guī)則非球面光學元件應力分布測量系統(tǒng)的傾斜，多角度入射掃描技術可以保證對非球面不規(guī)則的光學元件（光刻機透鏡等）有著的掃描測量解決方案。
應力雙折射系統(tǒng)用于殘余應力檢測。該應力雙折射測量系統(tǒng)既可作為實驗室科研探索測量光學組件應力分布測量，也可用作諸如玻璃面板，透鏡，晶體，單晶硅/多晶硅、注塑成品等工業(yè)生產中檢測產品應力分布。產品軟件直觀顯示待測樣品應力情況，便于操作和日常監(jiān)測。
應力雙折射系統(tǒng)(殘余應力檢測)可以根據客戶需求選擇設置，使得測量更有針對性（高精度/大范圍相位延遲量），系統(tǒng)有著*測量速度的同時也具有*的測量分辨能力（<1 mm grid spacing ），150AT應力雙折射系統(tǒng)也提供傾斜位移平臺等設計來幫助客戶完成一些非常規(guī)掃描/測量需求。
產品特點：
1、自動X/Y位移平臺掃描
2、臺式整機設計組裝
3、靈活位移平臺設計，滿足個性化定制需求
4、數據擬合分析功能和友好用戶界面
5、二維/三維圖形/參數表格顯示樣品應力分布測量結果。
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